粉末X線回折による材料分析

内容紹介

目次

1　粉末回折に必要な結晶学
　　1．単位胞、空間格子（結晶系とブラヴェ格子）
　　2．結晶のもつ対称性
　　3．点群と空間群
　　4．実格子と逆格子

2　X線についての基礎知識
　　1．X線の発生原理
　　2．X線による回折、散乱、吸収

3　粉末X線回折の理論
　　1．ブラッグ反射と回折線の関係
　　2．構造因子と回折強度
　　3．消滅則と空間群の決定
　　4．フーリエ変換による電子密度分布

4　粉末X線回折計による測定装置
　　1．X線発生装置（X線封入管、回転対陰極）
　　2．粉末回折計の光学系

5　粉末回折実験の実際
　　1．試料の調整
　　2．X線の選択
　　3．測定条件の設定

6　粉末回折計以外の粉末回折方法
　　1．粉末回折写真法による測定
　　2．粉末回折実験に用いられるいろいろな検出器
　　3．エネルギー分散粉末回折法

7　粉末回折法を利用した解析
　　1．格子定数の測定
　　2．定性分析と定量分析
　　3．結晶子（粒度）解析
　　4．形状と組織解析
　　5．結晶子のひずみと応力測定
　　6．有機化合物の粉末回折

8　粉末結晶構造解析
　　1．粉末回折線プロファイル
　　2．リートフェルト法粉末構造解析
　　3．ab initio法
　　4．粉末回折法を用いた電子密度解析
　　5．マキシマムエントロピー法による構造解析
　　6．異常分散を利用した粉末構造解析

9　特殊条件下での粉末X線回折
　　1．高温粉末回折実験
　　2．低温粉末回折実験
　　3．高圧粉末回折実験
　　4．時間分割粉末回折実験

10　粉末試料同定・検索法
　　1．JCPDSデータベース
　　2．同定法
　　3．計算機による検索法

11　薄膜X線回折法
　　1．薄膜X線回折実験の目的
　　2．薄膜X線回折法
　　3．平行光学系

12　非晶質試料X線回折実験
　　1．動径分布関数
　　2．非晶質散乱実験

付録